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      中科院微電子所都安彥研究員來學院講學

      供稿: 時間:2020-11-22 瀏覽:

       11月9日,應信息學院邀請,中國科學院微電子研究所都安彥研究員為學院師生做了題為《高端芯片的成品率和可靠性分析:基于反向工程結構分析》的學術講座。

       都安彥研究員介紹了高端芯片工藝發展歷程中,新材料和新結構引入器件的關鍵技術節點,探討了如何使用新工藝流程來提高產量,介紹了新材料、新結構和工藝流程對產量和可靠性的影響。最后,都安彥研究員與師生互動交流,為大家答疑解惑,擴展了同學們的學術視野。

       都安彥,中國科學院微電子研究所研究員;曾任職于格芯(新加坡)、新加坡特許半導體、新加坡微電子所、美光(新加坡)等企業與研究機構,擁有20年晶圓半導體失效分析和工藝分析的工作經驗,10余年的高端芯片工藝和可靠性研發和分析的工作經驗。

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